|
Thang đo chế độ không tỷ lệ
|
0.00 to 9.99; 10.0 to 40.0 NTU; 0.0 to 99.9; 100 to 268 Nephelos; 0.00 to 9.80 EBC
|
|
Độ phân giải chế độ không tỷ lệ
|
0.01; 0.1 NTU; 0.1; 1 Nephelos; 0.01 EBC
|
|
Thang đo tỷ lệ chế độ
|
0.00 to 9.99; 10.0 to 99.9; 100 to 4000 NTU; 0.0 to 99.9; 100 to 26800 Nephelos; 0.00 to 9.99; 10.0 to 99.9; 100 to 980 EBC
|
|
Độ phân giải tỷ lệ chế độ
|
0.01; 0.1; 1 NTU; 0.1; 1 Nephelos; 0.01; 0.1, 1 EBC
|
|
Độ chính xác
|
±2% giá trị cộng 0.02 NTU (0.15 Nephelos; 0.01 EBC), ±5% giá trị trên 1000 NTU (6700 Nephelos; 245 EBC)
|
|
Lựa chọn thang đo
|
Tự động
|
|
Độ lặp
|
±1% giá trị hoặc 0.02 NTU (0.15 Nephelos; 0.01 EBC) cho giá trị lớn hơn
|
|
Ánh sáng lạc
|
< 0.02 NTU (0.15 Nephelos; 0.01 EBC)
|
|
Đầu dò ánh sáng
|
tế bào quang điện silicon
|
|
Phương pháp
|
nephelometric (90°) hoặc nephelometric theo tỷ lệ (90° & 180°), phù hợp của USEPA 180.1 và Chuẩn 2130 B
|
|
Chế độ đo
|
bình thường, trung bình, liên tục
|
|
Chuẩn độ đục
|
< 0.1, 15, 100, 750 và 2000 NTU
|
|
Hiệu chuẩn
|
2, 3, 4 hoặc 5 điểm
|