Tính năng, đặc điểm

• Ống X-quang hiệu suất cao và máy dò trôi dạt silic (SDD) với diện tích hiệu quả lớn để đo chính xác, chính xác ngay cả lớp phủ mỏng nhất
• Xây dựng cực kỳ mạnh mẽ cho thử nghiệm nối tiếp, với sự ổn định lâu dài nổi bật
• Lập trình XY-bảng và Z-trục cho thử nghiệm nối tiếp tự động
• Sống hình ảnh video và con trỏ laser để làm cho định vị mẫu nhanh chóng và dễ dàng

Các ứng dụng:

Đo độ dày lớp phủ

• Kiểm tra các lớp phủ rất mỏng, ví dụ các lớp vàng và palladium dày ≤0.1μm, trong các ngành công nghiệp điện tử và bán dẫn
• Đo lớp phủ cứng trong sản xuất ô tô
• Đo độ dày lớp phủ trong ngành công nghiệp quang điện

Phân tích vật liệu

• Xác định các chất không mong muốn (ví dụ: kim loại nặng) trong đồ điện tử, bao bì và hàng tiêu dùng theo RoHS, WEEE, CPSIA và các hướng dẫn khác
• Phân tích vàng và kim loại quý khác, cũng như các hợp kim của chúng
• Xác định thành phần của lớp phủ chức năng, chẳng hạn như xác định hàm lượng phốt pho trong NiP